為滿足更高精度的高光譜應用需求
?？禉C器人CI系列SWIR新增500萬像素相機
MV-CI050-Y1S-NN
工業(yè)SWIR相機
搭載InGaAs傳感器
多種圖像預處理功能
小型化設計
安裝更靈活
CXP-12接口
實時傳輸非壓縮圖像
更小的像元，更低的噪聲
可在0.4μm-1.7μm內(nèi)連續(xù)響應
為半導體檢測|材料分選|物質(zhì)穿透
等高光譜應用提供更高精度的選擇
優(yōu)越的性能參數(shù)
性能&結(jié)構(gòu)設計
MV-CI050-Y1S-NN
相機通過緊湊的機身設計，縮小相機所占空間，輕松適配各類工業(yè)檢測設備的有限安裝空間。
532萬像素 細節(jié)大師
高精度成像
MV-CI050-Y1S-NN搭載Sony IMX992圖像傳感器，像素由IMX990的134萬躍升至532萬像素，是當前市面上同類產(chǎn)品中的高分辨率戰(zhàn)士；靶面擴展至1/1.4”，視野更廣，圖像精度大幅提升。
賦能高速檢測場景
高幀率 快節(jié)拍
相機配備1路CXP-12數(shù)據(jù)傳輸接口，在12.5G帶寬下可實現(xiàn)120.6fps高幀率，尤其適用于半導體等對快節(jié)拍要求嚴苛的高速檢測場景。
強大ISP 畫質(zhì)無憂
智能圖像優(yōu)化
相機內(nèi)置主動式壞點校正、2D降噪與陰影補償等ISP算法功能，有效提升圖像均勻性與信噪比，確保輸出畫質(zhì)清晰穩(wěn)定。
高光譜行業(yè)應用廣泛
多行業(yè)應用
半導體/光伏硅片檢測
通過更高精度的SWIR圖像，單晶硅制品的檢測會更加便捷，同一視野下，能夠看清更多細節(jié)。
材料透檢
SWIR可以透過多種材料。不同材質(zhì)的物品，在特定的紅外波段下，會根據(jù)吸收、反射程度而呈現(xiàn)透明、半透明、白色、黑色等不同狀態(tài)，適用于同色材料分選，塑料內(nèi)部填充物檢測、深色物品內(nèi)部劃痕等。
含水量檢測
水在特定的波長上有強烈的吸收作用，如在1.45μm波段下，水的吸收能力較強，所以在圖像中顯得比較暗。含水量少的部分，反射率會強烈增加，圖像亮度較高。
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